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线光谱共焦位移传感器

同轴检测不限材质 兼容性±20°,支持透明、镜面、高反光等不同材质表面的高精度3D测量。 微米级检测精度 超高测量性能,实现微米级形貌测量精度。 丰富的算法功能 采用高速数据处理算法,可测量高速的生产工艺。

产品描述

同轴检测不限材质

兼容性±20°,支持透明、镜面、高反光等不同材质表面的高精度3D测量。

微米级检测精度

超高测量性能,实现微米级形貌测量精度。

丰富的算法功能

采用高速数据处理算法,可测量高速的生产工艺。

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